823
.pdfзывает ток, величина которого зависит от светового потока и сопротивления внешней цепи. Ток ^-«-перехода может быть найден из (1.19):
/ = / 0 е^/<Рт - 10 .
При освещении возникает фотоЭДС (еф), которая вызывает фототок, совпадающий по знаку с обратным током /о, тогда
/ = / оееф/фт- / 0 - /ф .
Если разомкнуть внешнюю цепь, то ток будет равен нулю:
0 =10е Фхх Фт - /о |
- /ф , |
|
или |
|
|
вФх.х |
' л * . |
|
V'o |
|
|
|
|
|
где ^фх - фотоЭДС холостого хода. |
|
|
При коротком замыкании ^-«-перехода |
ток будет максимальным, а |
|
вф = 0 . |
|
|
^гпах = “ ^ф • |
|
Приборы, использующие фотогальванический эффект, называются фотодиодами, фототриодами, фототиристорами.
1.13. Эффект электрического поля
Под действие электрического поля концентрация носителей в припо верхностном слое полупроводника может изменяться. Это явление полу чило название эффекта электрического поля (эффект поля).
Рассмотрим, что будет происходить в полупроводнике, если к цепи металл - диэлектрик - полупроводник (МДП) будет приложено внешнее напряжение (рис. 1.38). В такой цепи не может протекать ток, а следова тельно, контакт можно рассматривать как пло ский конденсатор. Одна пластина его металли ческая, а вторая - полупроводниковая, и на по лупроводниковой пластине будет наводиться такой же заряд, как и на металлической, но, в отличие от металлической, он будет распро страняться в глубь полупроводника. Глубина распространения этого заряда получила назва
ние дебаевской длины (LQ). Для собственного полупроводника дебаевская длина
ервфт
L D j = 2ёщ
Слой с повышенной концентрацией носителей получил название обо гащенного слоя. Если поменять полярность внешнего напряжения, то в собственном полупроводнике вблизи границы с диэлектриком будут нака пливаться дырки. Таким образом, при любой полярности в собственном полупроводнике происходит процесс обогащения.
В примесных полупроводниках в зависимости от полярности прило женного напряжения происходит либо процесс обогащения, либо процесс обеднения основными носителями приповерхностного слоя. Для примера рассмотрим полупроводник w-типа и приложим к нему напряжение, по-
+ |
|
и _ - |
|
лярность которого показана на рис. 1.39. В |
||
|
|
|
|
этом случае электроны «подтягиваются» к |
||
|
|
|
|
поверхности |
полупроводника, |
обогащая |
I |
P |
|
приповерхностный слой основными носите |
|||
|
лями. Наличие объемного заряда приводит к |
|||||
|
искривлению |
энергетических зон, |
создавая |
|||
|
|
|
|
поверхностный потенциал ср5. В этом случае |
||
г |
|
|
|
дебаевская длина может быть найдена как |
||
1 |
|
|
|
|
|
|
i |
t// У / / / / / / М |
|
|
— |еОеФт |
|
|
г |
|
ф £ |
| |
|
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
||
У1 |
| |
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
: |
^ |
V7Y/////X |
где NR - концентрация донорной примеси. |
|||
|
|
|
|
Так как NR» л,-, то дебаевская длина в |
примесных полупроводниках всегда меньше,
Рис. 1.39
чем в собственных, и составляет сотые доли микрометра.
При изменении полярности приложенного напряжения (рис. 1.40) электроны будут отталкиваться от поверхности полупроводника, оставляя 1 неподвижными ионы донора Ф, и, следовательно, получится приповерхно стный слой, обедненный основными носителями и имеющий нескомпенсированный объемный заряд со знаком плюс. Величина проникновения этого заряда в глубь кристалла называется глубиной обедненного слоя и обозначается /0. Эта величина может быть найдена аналогично дебаевской длине, но вместо фтмы подставляем значение поверхностного потен циала ер*:
Так как q>s зависит от внешнего напряжения, то /0, в отличие от /д, оп ределяется не только свойствами материала, но еще и напряжением.
С увеличением внешнего напряжения глубина обедненного слоя рас тет, количество основных носителей уменьшается, а количество неоснов ных носителей возрастает за счет подтягивания дырок к приповерхностно му слою, и при некотором внешнем напряжении концентрация неосновных носителей становится больше, чем основных, т.е. в «-полупроводнике об разуется инверсный слой (рис. 1.41). Образование инверсного слоя нашло применение в полевых транзисторах с индуцируемым каналом.
2. ЭЛЕМ ЕН ТН А Я БАЗА ЭЛЕКТРО Н Н Ы Х У СТРОЙСТВ
Л е к ц и я № 7
2.1. П олупроводниковые диоды
Полупроводниковым диодом называется /?-«-переход, помещенный в герметизированный корпус и имеющий два вывода. В зависимости от тех нологии изготовления различают диоды плоскостные, точечные, микро
сплавные, микросварные, мезадиффузионные, эпитаксально-планарные и др.
По функциональному назначению диоды делятся на выпрямительные, опорные (кремниевые стабилитроны), туннельные, точечные, импульсные, Шоттки, варикапы и др.
2.1.1. Выпрямительные диоды
Выпрямительные диоды получают, как правило, двумя методами: сплавным и диффузионным. При сплавном методе в кристалл кремния или германия, имеющего «-проводимость, вплавляется акцептор (индий, алю миний и т.д.), а при диффузионном методе происходит диффузия примеси при высокой температуре из среды, содержащей пары примесного мате риала. Отличительной особенностью выпрямительных диодов является большая площадь p -и-перехода, что позволяет пропускать через переход большие токи - от сотен миллиампер до сотен ампер.
Основной характеристикой выпрямительного диода является вольтамперная характеристика (ВАХ), такая же, как у р-«-перехода, т.е. в пря мой ветви - большой ток при малых напряжениях, а в обратной ветви - большое напряжение при малом обратном токе. К основным параметрам выпрямительных диодов следует отнести:
1Ср - максимально допустимый средний прямой ток диода;
^ср ~ среднее прямое напряжение диода;
Uo6p- максимально допустимое обратное напряжение диода; /0 бр - максимальный обратный ток диода.
По этим параметрам, как правило, выбирается диод для схемы выпря
мителя. Основное назначение рассмотренных диодов - |
выпрямительные | |
силовые установки для создания источников вторичного питания. Схема I |
|
включения диода представлена на рис. 2 .1 . |
I |
При подаче на вход одной полуволны синусоидального напряжения диод откроется и ток потечет через нагрузку, а при подаче другой полу волны диод закроется и ток через нагрузку протекать не будет (рис. 2 .2 ). Такой ток (напряжение) называется пульсирующим и характеризуется средним значением или постоянной составляющей.
2.1.2. Кремниевый стабилитрон
Кремниевый стабилитрон, или опорный диод, относится к классу пло скостных диодов, но в отличие от выпрямительного диода в обратной вет ви его формируется электрический пробой и рабочим участком является участок обратной ветви ВАХ в области пробоя (рис. 2.3).
Как видно из рис. 2.3, в области пробоя напряжение на стабилитроне практически остается неизменным при значительном изменении тока, что позволяет использовать стабилитрон в схемах стабилизации постоянного напряжения. Схема включения стабилитрона представлена на рис. 2.4.
^доб
- о-
Рис. 2.3 |
Рис. 2.4 |
Стабилитрон подключается параллельно нагрузке и последовательно с добавочным сопротивлением, на которое падает практически все измене ние входного напряжения. При этом напряжение на нагрузке изменяется незначительно.
Сопротивление Ядоб может быть рассчитано следующим образом. По второму закону Кирхгофа
^ВХ ^доб + ^ СТ ~ ^ДОб(^СТ + Ai) + ^ст»
тогда
где UB%2 (l,2 * l,3 )i/CT; / ст = max 2 ПиП ’ ^ ст’ /max’ 7min берутся из
справочных данных.
Основные параметры стабилитрона:
тI - номинальное напряжение стабилизации; /min - минимальный ток стабилизации;
/mev - максимальный ток стабилизации;
Д£/ет
Гдиф - дифференциальное сопротивление, гдиф = — — ;
ТКН - температурный коэффициент напряжения стабилизации, TKII =
= ^^gLiQQ % / °С, где А/ - изменение температуры; ДЦ -
изменение напряжения на стабилитроне.
2.1.3.Туннельный диод
Туннельный диод отличается от других типов диодов тем, что полу проводник, идущий на его изготовление, имеет высокое содержание при садки - до 5-101 9 атомов на 1 см3 основного вещества. У таких материалов уровень Ферми в полупроводниках л-типа смещается в зону проводимости, а в полупроводниках /7-типа - в ва-
зп\\\\\\\ |
ЧУУЧЧЧ^ зп |
лентную зону. Полупроводник при |
||
такой концентрации примеси |
вы- |
|||
Р |
|
|||
вз ЧЧЧЧЧЧч |
ЧЧЧЧЧЧЧ ВЗ |
рождается в полуметалл. |
При |
|
ФFp |
|
образовании /7-л-перехода энерге |
||
|
|
|||
вз/ |
|
тические уровни смещаются на ве |
||
|
личину, превышающую ширину |
|||
ФГЧ Ч Ч Ч Ч Ч Ч У ^ ЧЧЧЧЧЧЧ- зп |
запрещенной зоны (рис. 2.5). Ши- |
|||
|
\ \ \ \ \ \ \ ВЗ |
рина /7-л-перехода из-за высокой |
||
|
|
концентрации примесей мала. |
|
Рис. 2.5
Как видно из рис. 2.5, распо ложение энергетических зон тако во, что электрон может перейти по туннелю, указанному пунктиром, из зо
ны проводимости л-полупроводника в валентную зону /7-полупроводника без изменения энергии.
Движение электронов из зоны проводимости л-полупроводника в валентную зону /7-полупроводника называется прямым туннельным током. Движение тока электронов из валентной зоны /7-полупроводника в зону
проводимости «-полупроводника называется обратным туннельным током. При отсутствии внешнего напряжения прямой и обратный туннельные то ки равны друг другу. Если к туннельному переходу приложить внешнее напряжение, то равновесие на ^-«-переходе нарушится. При прямой полярности прямой туннельный ток возрастает и после дости жения максимальной величины снижается до нуля, а обратный ток плавно снижается до нуля. Это объясняется графиком распре деления носителей в зонах (рис. 2 .6 ) и тем, что с увеличением прямого напряжения происходит уменьшение перепада зон на пе реходе. Поэтому при некотором прямом на пряжении максимум концентрации электро нов в зоне проводимости оказывается про тив максимума концентрации дырок в ва
лентной зоне, что определяет максимальную величину прямого туннельно го тока (рис. 2.27). При этом обратный ток (движение электронов из р- области в «-область) снижается, так как в ВЗ с увеличением концентрации дырок уменьшается концентрация электронов, а в ЗП с увеличением кон центрации электронов уменьшается концентрация дырок. При некотором прямом напряжении эти зоны выравниваются настолько, что туннель исче зает, а следовательно, исчезает и туннельный ток.
При обратном напряжении искажение зон на переходе увеличится и максимум концентрации электронов в ЗП и дырок в ВЗ окажется против уровней, которые заняты, поэтому прямой туннельный ток будет снижать
ся, а обратный ток расти, так как в глубине ВЗ много свободных уровней (дырок). ВАХ туннельного диода может быть построена как сумма токов туннельного (прямого и обратного) диффузионного и дрейфового (рис. 2 .8 ).
Вольт-амперные характеристики для прямого и обратного туннельно го тока представлены на рис. 2 .7 , а их общая характеристика - на рис. 2 .8 .
Как видно из ВАХ, туннельный диод имеет участок с отрицательным дифференциальным сопротивлением, что дает возможность использовать его в усилительных, генераторных и импульсных устройствах. Благодаря тому, что время перехода носителей по туннелю происходит очень быстро, туннельные диоды могут работать на высоких частотах (ГГц), а в им пульсных схемах формировать крутые фронты. Кроме того, эти диоды мо гут работать при температурах до 400 °С, так как из-за высокой концен трации примесей их характеристики и параметры менее чувствительны к изменению температуры.
Основной характеристикой туннельного диода является ВАХ, приве денная на рис. 2.9, основные параметры его следующие:
/п - пиковый ток;
lJ h ~ отношение пикового тока к току впадины;
Un- напряжение пика;
иъ - напряжение впадины.
^обр
Рис. 2.9 |
Рис. 2.10 |
Разновидностью туннельных диодов является обращенный диод. В нем нет участка с отрицательным сопротивлением, а имеется участок, на котором ток практически не изменяется (рис. 2.10). Получается, что пря-j мое напряжение больше, чем обратное, а прямой ток меньше, чем обрат-;
ный, поэтому они и получили название обращенных диодов. Такие диоды используются для выпрямления напряжения малой величины по амплиту де (менее одного вольта), так как при таких малых амплитудах обычный выпрямительный диод теряет свои вентильные свойства.
Существует большое количество схем включения туннельных диодов в усилительных, генераторных и импульсных режимах работы. Приведем пример включения туннельного диода в пороговых устройствах типа «триггер». Схема включения, ВАХ и нагрузочная прямая представлены со ответственно на рис. 2 . 1 ] и 2 .1 2 .
Я]
У , ^вых
_ L
Рис. 2.11
Уравнение нагрузочной прямой с учетом второго закона Кирхгофа имеет вид
^т.д = ~ Л\д ^ 1 *
Нагрузочная прямая, представляющая собой графическое отображе ние уравнения, строится по двум точкам: точке холостого хода (т.х.х), при / т д = О, UTд = Еп,и точке короткого замыкания (т.к.з), при и тц= О,
L
/ т д = — . Для этого проведем прямую через эти две точки. Еп и R\ зада-
R\
дим такими, чтобы нагрузочная прямая пересекала участок с отрицатель ным дифференциальным сопротивлением так, как показано на рис. 2,12. Несложно показать, что точка С является неустойчивой, т.е. в данной схеме ток и напряжение не могут соответствовать этой точке. Действи тельно, любое незначительное отклонение тока (напряжения) в точке С приводит к тому, что в схеме устанавливаются ток и напряжение, соответ ствующие точкам А или В, которые являются устойчивыми. Предположим, что в схеме установилось напряжение [/ВЫх 1 , соответствующее точке А.
Если теперь подавать на вход плавно увеличивающееся напряжение (по ложительное), то по цепи UBX R i“+Tz ток туннельного диода будет воз растать и как только достигнет значения /п, схема скачком перейдет в со стояние, соответствующее точке Б, а на выходе установится напряжение С/Вых 2 • Если теперь плавно уменьшить L/BX, то ток туннельного диода нач нет уменьшаться и как только достигнет значения /в, схема скачком перей дет в состояние, соответствующее точке А (рис. 2.13). Следовательно, при некотором пороговом напряжении (порог срабатывания) на выходе уста навливается высокий уровень, а при пороге отпуска - низкий уровень, что позволяет использовать данную схему для формирования прямоугольных импульсов с крутыми фронтами или как пороговое устройство.
Если подать на вход разнополярные короткие импульсы (рис. 2.14), то получим схему, которую можно использовать для хранения одного бита информации (низкий уровень - это 0 , а высокий - 1 ), т.е. использовать се как элемент памяти.
Л е к ц и я 8
2.1.4. Точечные диоды
Точечные диоды характеризуются очень малой площадью р-перехо- ды. Получаются такие переходы следующим образом. Берется пластинка полупроводника «-типа. К одной из поверхностей этой пластинки пристав ляется металлическая игла из тонкой вольфрамовой проволоки, обрабо танная акцепторной примесью (In, А1 и т.д.). Для получения ^-«-перехода используется метод токовой формовки. Суть его в том, что через этот кон такт пропускается кратковременный импульс тока определенной величи ны. В результате тонкий слой полупроводника вблизи острия иглы приоб ретает дырочную проводимость {р) и внутри полупроводниковой пластин