Изучение типовых методов обнаружения неисправностей (90

в) ваттах;

г) фарадах;

д) ничего из перечисленного.

14 Новый, полностью заряженный кислотный аккумулятор при измерении напряжения должен показывать:

а) более 12 В;

б) 2 В;

в) 11В;

г) 12 В;

д) иное.

15 Конденсаторы можно проверить:

а) омметром;

б) пробой на искру;

в) шунтированием;

г) только «б» и «в»;

д) «а», «б» и «в».

16 Для изготовления кристалла р-типа:

а) добавляется пятивалентный галлий;

б) добавляется трехвалентный индий;

в) добавляется пятивалентная сурьма;

г) добавляется трехвалентный мышьяк;

д) ничего из перечисленного. 17 Лампа с тремя сетками это:

а) триод;

б) тетрод;

в) пентод;

г) многосеточная лампа;

д) мощная лампа.

31

18 Какой из перечисленных способов не используется обычно при поиске неисправностей электронных ламп:

а) постукивание;

б) устройство проверки ламп;

в) «шунтирование»;

г) замена;

д) оба: «а» и «б».

19 Затвор в полевом транзисторе обычно:

а) обратно смещен;

б) прямо смещен;

в) не смещен;

г) ничего из перечисленного.

20 МОП транзистор часто называют:

а) полевой транзистор;

б) биполярный транзистор;

в) полевой транзистор с изолированы затвором МДП;

г) тиристор.

21 МОП транзистор с индуцированным р-каналом проводит при:

а) прямом смещении;

б) обратном смещении;

в) нулевом смещении;

г) ничего из перечисленного.

22 Ток в МОП транзисторе с индуцированным n-каналом уменьшается

при:

а) прямом смещении;

б) обратном смещении;

в) нулевом смещении;

г) ничего из перечисленного.

32

23 Ионистор иначе называется:

а) двухслойный конденсатор;

б) диэлектрический конденсатор;

в) конденсатор накопления энергии;

г) электростатический конденсатор.

8 Контрольные вопросы

1 Перечислите и поясните семь причин выхода из строя электронных и электрических устройств.

2 Перечислите и поясните четыре чувства, которые обычно используются при поиске неисправностей.

3 Каковы четыре причины неисправностей в схемах? Расскажите, чем они отличаются друг от друга?

4Каковы характеристики короткого замыкания?

5Каковы характеристики обрыва в схеме?

6Каковы характеристики замыкания на землю в схеме?

7Каковы характеристики наличия механических проблем в схеме?

8Объясните разницу между терминами «шунтирование» и «замена».

9Опишите метод контроля прохождения сигнала.

10Перечислите и объясните различные типы технических чертежей.

11Опишите способы поиска неисправностей конденсаторов.

12Назовите несколько типов конденсаторов.

13Опишите структуру диода.

14Объясните, как тестировать диод.

15Что такое кристаллический детектор?

16Опишите структуру транзистора.

17Опишите, как тестировать транзистор.

33

18Опишите, как тестировать тиристор.

19Опишите различные методы, которые используются для поиска неисп-

равностей транзисторов.

20 Опишите различные методы, которые используются для поиска неисп-

равностей интегральных микросхем.

21 Опишите различия между некоторыми типами электронных ламп.

22 Опишите основные способы проверки электронных ламп.

23 Почему использовать специальные тестеры для проверки электронных ламп следует с осторожностью?

24Что такое тиристор?

25Что такое тиратрон?

Список использованных источников

1 Неразрушающий контроль и диагностика: справочник / под ред.

В.В.Клюева. – М. : Машиностроение, 2005. – 490 с.

2 Неразрушающий контроль металлов и изделий : справочник / под ред.

Г.С. Самойловича. – М. : Машиностроение, 2004. – 456 с.

3 Политехнический словарь / гл. ред. И.И. Артоболевский. – М. : Совет-

ская энциклопедия, 2008. – 607 с.

4 РД 03-606–03. Инструкция по визуальному и измерительному контролю.

– М. : Изд-во государственного унитарного предприятия «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003. – 101 с.

5 Воронкин, Ю.Н. Методы профилактики и ремонта промышленного обо-

рудования / Ю.Н. Воронкин, Н.В. Поздняков. – М. : Академия, 2002. – 240 с.

34

6 Кормильцин, Г.С. Основы монтажа и ремонта технологического оборудо-

вания / Г.С. Кормильцин, О.О. Иванов. – Тамбов : Изд-во ТГТУ, 2001.– 87с.

35